Matières plastiques, gomme, caoutchouc, matériel d’emballage

Nos prestations

• Analyse par screening de substances inorganiques, comme des matières de charge, des agents ignifuges, allant jusqu’à 71 éléments, conformément DIN 51418
• Détermination du HBCD dans le polystyrène (Styropor)
• Détermination de la teneur en chlore dans les matériaux d'emballage alimentaire
• Microanalyse par rayons X, EDX d'inclusions, d'impuretés

Types d’analyses pour l’analyse de matières plastiques, gomme, caoutchouc, matériel d’emballage

• Des programmes de mesure de tailles différentes pour la spectrométrie de fluorescence X de matières plastiques, gomme, caoutchouc, matériel d’emballage à base d’une galette comprimée ou non destructiv.

• Analyse par screening portant sur 70 éléments au maximum 

! À noter !

Pour exécuter une analyse conformément aux normes, nous avons besoin de matériel d’échantillonnage fin (<63 µm) et séché (105°C), destiné à l’analyse, ainsi que la valeur de la perte par calcination (LOI).

Nous proposons également d’autres services, comme la pulvérisation, le séchage et la détermination de la perte par calcination, conformément à la liste des prix SFX.

Avantages de la spectrométrie de fluorescence des rayons X, SFX

• Procédés d’analyse conformes aux normes nationales et internationales
• Analyses à des prix avantageux
• Durée de traitement courte en laboratoire
• Analyses d’une précision élevée, limites de détection basses
• Jusqu’à 71 éléments au maximum dans un seul cycle de mesure

En particulier pour les échantillons importants pour l'environnement tels que les sols pollués ou non, les boues d'épuration, les résidus d'incinération des déchets, mais aussi les plâtres REA, les cendres volantes et autres matériaux. En raison du type de préparation, les effets de texture et de granulométrie peuvent conduire à une détermination erronée des éléments légers principaux avec des numéros atomiques jusqu'à 15. Pour évaluer les matières premières, il convient d'analyser au moins les éléments de Na à Si à partir d'une minéralisation par fusion.

Le programme des 27 éléments est particulièrement adapté aux questions pour lesquelles une gamme d'éléments est exigée selon Laga, la liste Kloke, le décret sur les boues d'épuration des déchets ou les directives de la CE. La toxicologie environnementale connaît cependant un grand nombre d'autres éléments qui ne sont pas pris en compte dans les listes de valeurs limites, de valeurs indicatives et de valeurs d'orientation. En cas de suspicion d'une telle contamination ou également lors de l'établissement de cadastres des sols, il est recommandé d'utiliser les programmes de mesure plus complets avec 40 ou 50 éléments.

Pour ces questions, le matériau est préparé en douceur : l'échantillon est séché à 40 oC dans une étuve à circulation d'air, de sorte qu'il n'y ait pas de pertes par évaporation, par exemple de composés de mercure métalliques ou organométalliques volatils, et - si cela n'a pas déjà été fait avant la livraison - broyé dans un broyeur d'agate.

Le programme de paramètres fondamentaux Omnian sert à l'analyse XRF quantitative, semi-quantitative ou qualitative, indépendante de la matrice, d'échantillons inconnus de propriétés de matériaux et de compositions les plus diverses (inorganiques et organiques). L'échantillon peut être analysé sous forme préparée ou, si sa composition (stable aux rayons X et au vide !) et son état de surface sont appropriés, sans préparation et de manière non destructive. Il est possible de déterminer des concentrations d'éléments comprises entre la limite de détection, en général 250 µg/g, et 100%.

Normes et directives pour la spectrométrie de fluorescence X, SFX, de matières matières plastiques, gomme, caoutchouc, matériel d’emballage

• DIN EN 62321-3-1:2014-10 - Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 3-1: Screening - Lead, mercury, cadmium, total chromium and total bromine by X-ray fluorescence spectrometry (IEC 62321-3-1:2013)
• IN 51418-1:2008-08 - X-ray spectrometry - X-ray emission- and X-ray fluorescence analysis (XRF) - Part 1: Definitions and basic principles
• DIN 51418-2:2015-03 - X-ray spectrometry - X-ray emission and X-ray fluorescence analysis (XRF) - Part 2: Definitions and basic principles for measurements, calibration and evaluation of results